透射电镜(TEM)样品制备是获得高质量图像的关键。
样品要求：
1. 厚度小于100nm
2. 在高真空中稳定
3. 不含水分和挥发性物质
4. 导电性良好
制样方法：
1. 离子减薄法
2. 电解抛光法
3. ultramicrotomy超薄切片法
4. Focused Ion Beam (FIB) 制备